News
最新消息
Date 2026-03-02
Title 【NEWS】智動化測試創新論壇
誠摯邀請您參加 NI 台灣 年度最重要的技術盛會——「AI 驅動量測新時代」系列研討會。本次活動專為半導體、電子系統與智慧製造領域工程師規劃,將於台北與新竹雙城舉辦,全面解析 AI 技術如何重塑測試與量測的未來樣貌。

在智慧化與高效能運算快速演進的趨勢下,測試技術正面臨關鍵轉型。
本系列研討會以「AI 推升生產力曲線」為核心主軸,從先進晶片驗證到跨域系統整合,呈現完整技術藍圖與實務應用成果,協助企業強化競爭優勢。


台北場|跨域創新與系統整合

聚焦於系統級驗證與 AI 應用落地,重點議題包括:

  • 無人機 HIL(硬體在環)虛實整合測試

  • AI 機器視覺於智慧產線自主化的實務應用

  • 6G NTN 衛星通訊最新系統架構

  • 機台振動預警與資料中心電力監控完整解決方案

現場設有 20 多項實機展示,並安排專家現場交流,協助與會者深入掌握產業最新發展。


新竹場|半導體先進製程與高速互連

直擊先進製程與高度自動化測試應用,內容涵蓋:

  • 30 分鐘零程式碼晶片測試實戰展示

  • UFPIV 超快速脈衝 I-V 先進量測技術

  • SiC 功率半導體動態可靠度驗證方法

  • 矽光子(Silicon Photonics)異質整合測試方案

現場規劃近 20 項實機展示,提供與技術專家深度雙向交流的機會。


凱茂科技有限公司也將在現場展出 [車用ECU自動化測試],席次有限,
現在就
立即報名
期待與您在活動現場進行更多的交流。

 

誠摯邀請您蒞臨現場,共同探索 AI 驅動下的量測新時代,開啟技術升級與產能優化的全新契機。

Back
台北總公司 /115-70 台北市南港區南港路三段50巷8號5F TEL /02-2788-1515 FAX /02-2785-2850 Copyright © Karma Tech. All rights reserved.  網頁設計|鉅潞科技